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扫描电镜测试SEM，x射线能谱测试EDS

      周主任：

     广州中科检测技术服务有限公司通过了中国国家认证认可监督管理委员会和中国合格评定国家认可委员会的二合一（cma、cnas）实验室认证认可，是的第三方检测机构。为您出具认证报告！日立S-3400N扫描电镜、德国布鲁克Xflash Detector 5010能谱仪，固体样品均可，样品应经过真空干燥处理，不含水分或其它易挥发成分。样品厚度不能高于10mm，样品直径200mm。测试条件：加速电压0.3~30kv，放大倍率5~300000倍，分辨率SE 3nm@30kv、10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可以测量固体样品、薄膜、微粒的表面结构，不导电的需喷金后测定。

扫描电镜快速检测，SEM现场检测-国科控股资质检测机构

扫描电镜测试SEM可提供表面结构测试，进行样品微观分析，扫描式显微镜可放大到30万倍以上，可测试项目广泛。

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X射线能谱：入射电子和样品进行非弹性碰撞可产生连续x光和特征x光，前者系入射电子减速所放出的连续光谱，形成背景决定zui少分析之量，后者系特定能阶间之能量差，可藉以分析成分元素。

元素分析：
可以测试的金属元素有： 锂（li）、铍（be）、 钠（na）、镁（mg）、铝（al）、 钾（k）、钙（ca）、钛（ti）、钒（v）、铬（cr）、锰（mn）、铁（fe）,钴（co）、镍（ni）、铜（cu）、锌（zn）、镓（ga）、...

 特别推出红外（F?IR）、DSC(差视热量扫描仪)、TGA（热失重分析）、TGA-FIR联用、DMA动态力学分析仪、塑料导热系数、塑料配方剖析未知物成分分析、激光粒度仪、TEM（透射电镜）、SEM（扫描电镜）的测试。

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